Výsledky vyhledávání - Veis, Martin

  • Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2
Upřesnit hledání
  1. Obálka

    Chapter Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization Autor Veis, Martin, Antos, Roman

    Vydáno 2021
    Získat plný text
    Online
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  2. Obálka

    Chapter Fourier Factorization in the Plane Wave Expansion Method in Modeling Photonic Crystals Autor Veis, Martin, Antos, Roman

    Vydáno 2021
    Získat plný text
    Online
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:

Vyhledávací nástroje: