תוצאות חיפוש - Dunaevskiy, M. S.

  • Showing 1 - 1 results of 1
Refine Results
  1. תמונות העטיפה

    Chapter Opportunities of Scanning Probe Microscopy for Electrical, Mechanical and Electromechanical Research of Semiconductor Nanowires מאת Geydt, Pavel, Dunaevskiy, M. S., Lähderanta, Erkki

    יצא לאור 2021
    קבל טקסט מלא
    Online
    הוספה למועדפים
    שמור ב:

כלי חיפוש: