Advanced Machine Learning and Deep Learning Approaches for Remote Sensing II

This publication elucidates the application of advanced technologies, including machine learning and deep learning, rooted in artificial intelligence, to the realm of remote sensing. It delineates the methodology employed to address prevailing challenges associated with the processing of images and...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Médium: Online
Jazyk:angličtina
Vydáno: MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute 2024
Témata:
On-line přístup:ONIX_20240514_9783725807710_454
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!