Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam

Im Rahmen dieser Arbeit wurde eine Schnittgeometrie für die FIB-DIC basierte Eigenspannungsmessung evaluiert. Bei der FIB-DIC Methode werden durch gezielten Materialabtrag mittels Focused Ion Beam (FIB) Eigenspannungen in Materialien abgebaut, ähnlich wie bei der etablierten makroskopischen Bohrloch...

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Detalles Bibliográficos

Autor Principal:	Krottenthaler, Markus
Formato:	Online
Idioma:	alemán
Publicado:	FAU University Press 2025
Subjects:	Elastische Anisotropie Focused ion beam (FIB) Eigenspannungen digitale Bildkorrelation (DIC) Lamellenschnittverfahren Finite Elemente Simulation Oxidationsschutzschichtsystem thema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes
Acceso en liña:	ONIX_20251215T160703_9783961470037_40
Tags:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!