Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks

In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursacht...

全面介紹

Saved in:
書目詳細資料
主要作者: Kornely, Michael
格式: Online
語言:德语
出版: KIT Scientific Publishing 2021
主題:
在線閱讀:34684
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
_version_ 1869520225048723456
author Kornely, Michael
author_browse Kornely, Michael
author_facet Kornely, Michael
author_sort Kornely, Michael
collection Directory of Open Access Books
description In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand.
format Online
id doab-20.500.12854ir-46164
institution Directory of Open Access Books
language ger
publishDate 2021
publishDateRange 2021
publishDateSort 2021
publisher KIT Scientific Publishing
publisherStr KIT Scientific Publishing
record_format ojs
spelling doab-20.500.12854ir-461642024-04-09T23:16:37Z Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks Kornely, Michael T1-995 Cr-Vergiftungmetallischer Interkonnektor (MIC)anodengestützte Zelle (ASC)Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC)APU Stack thema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TB Technology: general issues In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand. 2021-02-11T12:20:54Z 2021-02-11T12:20:54Z 2019-07-30 20:01:58 2012 book 34684 18681603 9783866448339 https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/46164 ger Schriften des Instituts für Werkstoffe der Elektrotechnik, Karlsruher Institut für Technologie / Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik image/jpeg Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International https://www.ksp.kit.edu/9783866448339 KIT Scientific Publishing 10.5445/KSP/1000027170 10.5445/KSP/1000027170 68fffc18-8f7b-44fa-ac7e-0b7d7d979bd2 9783866448339 V, 166 p. open access
spellingShingle T1-995
Cr-Vergiftungmetallischer Interkonnektor (MIC)anodengestützte Zelle (ASC)Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC)APU Stack
thema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TB Technology: general issues
Kornely, Michael
Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
title Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
title_full Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
title_fullStr Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
title_full_unstemmed Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
title_short Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
title_sort elektrische charakterisierung und modellierung von metallischen interkonnektoren mic des sofc stacks
topic T1-995
Cr-Vergiftungmetallischer Interkonnektor (MIC)anodengestützte Zelle (ASC)Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC)APU Stack
thema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TB Technology: general issues
topic_facet T1-995
Cr-Vergiftungmetallischer Interkonnektor (MIC)anodengestützte Zelle (ASC)Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC)APU Stack
thema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TB Technology: general issues
url 34684
work_keys_str_mv AT kornelymichael elektrischecharakterisierungundmodellierungvonmetallischeninterkonnektorenmicdessofcstacks