Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse

Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung...

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Autor principal: Dudeck, Sven Gerhard
Formato: Online
Idioma:alemão
Publicado em: KIT Scientific Publishing 2021
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Acesso em linha:35182
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spelling doab-20.500.12854ir-510422024-04-09T23:15:44Z Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse Dudeck, Sven Gerhard T1-995 Laserstrahlschweißen Klassifikation Spektroskopie divergenzbasierte Kantendetektion Prozessüberwachung thema EDItEUR::T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes::TB Technology: general issues Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche. 2021-02-11T17:04:44Z 2021-02-11T17:04:44Z 2019-07-30 20:02:00 2013 book 35182 21906629 9783731500193 https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/51042 ger Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie image/jpeg Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International https://www.ksp.kit.edu/9783731500193 KIT Scientific Publishing 10.5445/KSP/1000034572 10.5445/KSP/1000034572 68fffc18-8f7b-44fa-ac7e-0b7d7d979bd2 9783731500193 X, 260 p. open access
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