Documenti analoghi: Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

Soggetto: imaging; retroreflection; curved surface; ellipsometry; bildgebend; Retroreflexion; gekrümmte Oberfläche; Ellipsometrie; metrology; Messtechnik

Soggetto: thema EDItEUR::U Computing and Information Technology::UY Computer science::UYA Mathematical theory of computation::UYAM Maths for computer scientists