Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Hlavní autor:	Negara, Christian Emanuel
Médium:	Online
Jazyk:	němčina
Vydáno:	KIT Scientific Publishing 2023
Témata:	imaging; retroreflection; curved surface; ellipsometry; bildgebend; Retroreflexion; gekrümmte Oberfläche; Ellipsometrie; metrology; Messtechnik thema EDItEUR::U Computing and Information Technology::UY Computer science::UYA Mathematical theory of computation::UYAM Maths for computer scientists
On-line přístup:	OCN: 1404765154
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!