Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلف الرئيسي:	Negara, Christian Emanuel
التنسيق:	Online
اللغة:	الألمانية
منشور في:	KIT Scientific Publishing 2023
الموضوعات:	imaging; retroreflection; curved surface; ellipsometry; bildgebend; Retroreflexion; gekrümmte Oberfläche; Ellipsometrie; metrology; Messtechnik thema EDItEUR::U Computing and Information Technology::UY Computer science::UYA Mathematical theory of computation::UYAM Maths for computer scientists
الوصول للمادة أونلاين:	OCN: 1404765154
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!