Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen

Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präs...

Volledige beschrijving

Bibliografische gegevens

Hoofdauteur:	Werling, Stefan Bruno
Formaat:	Online
Taal:	Duits
Gepubliceerd in:	KIT Scientific Publishing 2021
Onderwerpen:	QA75.5-76.95 Oberflächenrekonstruktion spiegelnde Oberflächen Sichtprüfung Normalenfeld Deflektometrie bic Book Industry Communication::U Computing & information technology::UY Computer science
Online toegang:	35300
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