Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen
Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präs...
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| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | Online |
| ভাষা: | জার্মান |
| প্রকাশিত: |
KIT Scientific Publishing
2021
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| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | 35300 |
| ট্যাগগুলো: |
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|---|---|
| author | Werling, Stefan Bruno |
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| collection | Directory of Open Access Books |
| description | Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präsentiert. Zur Rekonstruktion spiegelnder Flächen wird ein neuartiger Algorithmus dargelegt. Große, komplex geformte spiegelnde Objekte können mit den dargelegten Methoden geprüft und vermessen werden. |
| format | Online |
| id | doab-20.500.12854ir-44647 |
| institution | Directory of Open Access Books |
| language | ger |
| publishDate | 2021 |
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| publishDateSort | 2021 |
| publisher | KIT Scientific Publishing |
| publisherStr | KIT Scientific Publishing |
| record_format | ojs |
| spelling | doab-20.500.12854ir-446472023-12-20T18:40:49Z Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen Werling, Stefan Bruno QA75.5-76.95 Oberflächenrekonstruktion spiegelnde Oberflächen Sichtprüfung Normalenfeld Deflektometrie bic Book Industry Communication::U Computing & information technology::UY Computer science Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präsentiert. Zur Rekonstruktion spiegelnder Flächen wird ein neuartiger Algorithmus dargelegt. Große, komplex geformte spiegelnde Objekte können mit den dargelegten Methoden geprüft und vermessen werden. 2021-02-11T11:03:46Z 2021-02-11T11:03:46Z 2019-07-30 20:02:01 2011 book 35300 18665934 9783866446878 https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/44647 ger Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung image/jpeg Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International https://www.ksp.kit.edu/9783866446878 KIT Scientific Publishing 10.5445/KSP/1000023287 10.5445/KSP/1000023287 68fffc18-8f7b-44fa-ac7e-0b7d7d979bd2 9783866446878 XI, 262 p. open access |
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