Metrology

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Bibliographische Detailangaben
Format:	Online
Sprache:	EN
Veröffentlicht:	MDPI AG 2022
Schlagworte:	cyberphysical systems machine learning for metrology metrology for sustainable manufacturing measurement uncertainty in dynamic processes Electronic computers. Computer science QA75.5-76.95 Applied mathematics. Quantitative methods T57-57.97
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