X-ray optics made by X-ray lithography: Process optimization and quality control

Grating based X-ray phase contrast imaging sets out to overcome the limits of conventional X-ray imaging in the detection of subtle density differences and opens a way to characterize a sample’s microstructure without the need for ultrahigh spatial resolution. The technique relies on grating structu...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Koch, Frieder Johannes
Định dạng: Online
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: KIT Scientific Publishing 2021
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:34602
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!