Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik

This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realizatio...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Klaus Boes, Florian
Médium: Online
Jazyk:němčina
Vydáno: KIT Scientific Publishing 2021
Témata:
On-line přístup:ONIX_20210723_9783731510789_7
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Podobné jednotky: Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik