Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik
This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realizatio...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Online |
| Jazyk: | němčina |
| Vydáno: |
KIT Scientific Publishing
2021
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | ONIX_20210723_9783731510789_7 |
| Tagy: |
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky: Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik
- Spannungseinprägende aktive Filter zur Kompensation der Stromverzerrungen von Netzstromrichtern
- Im Orbit einstellbare Ausgangsfilter und -multiplexer
- Frequenzkamm-basiertes breitbandiges MIMO-OFDM-Radar
- Technology and readout for scaling up superconducting nanowire single-photon detectors
- Verbesserung der Prozesskette zur Herstellung mikrostrukturierter Linsen für automobile Scheinwerfer
- Bewertungsmodell zur Evaluation hochauflösender, lichtbasierter Fahrerassistenzsysteme